二手进口UH4150日本日立紫外可见近红外分光光度计/光谱仪特点:
切换检测器波长时会产生小的信号差异,即使这样UH4150也可实现高精度的测定。
安装在积分球上的多个检测器可在紫外-可见-近红外的波长范围内进行测定。由于使用日立专业的积分球结构技术和信号处理技术等,将检测器切换时(信号水平的差异)吸光度值的变化降到小。
日立高性能的棱镜-光栅双单色器系统可实现低杂和低偏振。
UH4150采用棱镜-光栅(P-G)双单色器的光学系统,秉承U-4100光学系统的特点。 棱镜-光栅(P-G)系统与常见的光栅-光栅(G-G)系统相比,S和P偏振光强度没有大的改变。即使对于低透过率和反射率的样品,UH4150也可实现低噪音测定。
平行光束可实现反射光和散射光的精确测定。
入射对固体样品镜面反射率的测定非常重要。对于会聚光束,由于入射根据透镜的焦距等因素会不同,因此,像导电多层膜和棱镜等光学薄膜的模拟设计值将与实际测定值不同。
但对于平行光束,相对于样品入射始终相同,实现了高精度镜面反射率的测定。此外,平行光束可用于扩散率(雾度)的评价和透镜透过率的测定。
可提供适合不同测定目的的多种检测器。
可使用八种不同材料、尺寸和形状的积分球。*2*3
采用全新人体工学设计。
改进样品室门,提升操作性。为了便于换样品和附件的操作,采用了符合人体工学的设计。
兼容多种U-4100附件。
通用附件适用于两种型号。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸,适合多的测定类型。
比U-4100型高的样品通量。
在秉承U-4100型光学系统高性能的同时,UH4150提供高通量的测定。之前型号的仪器在1 nm数据间隔下测定时,扫描速度必须是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的扫描速度下以1 nm的间隔进行测定,显著缩短测定时间。*5UH4150在约2分钟内可从240 nm测定到2,600 nm。对需要在紫外-可见-近红外波长范围内测定的样品,如太阳能反射材料,尤其有效。
系统产品线:
积分球检测系统
可使用各种60 mm积分球。 选配件:150 mm积分球或 度连续可变**反射附件(此处列出的是60 mm标准积分球)。
直射光检测系统
直射光检测器内置于分光光度计内。 提供其他选配器替换直射光检测器, 如各种积分球和度连续可变 **反射附件。
二手机械库存明细
双面抛光机系列:
日本:hamai16B speedfam16B 21B 28B 30B 40B 双面抛光研磨机
德国:Peter Wolters 319/320系列双端面抛光机
国产:金研/宇晶9.6B 9S 9B 13B 15B 16B 20B
镀膜机械系列:
日本:光弛OTFC-1300/1550/2350
德国:莱宝:1300
:龙翩LP-1400/1650/1800
韩国:韩一 1200 联合2050
南光:1100/1300
检测仪器:
日本岛津:1900/2401/2550/3700分光光度计
日 立 :2900/4000/4001/4150 光谱仪
/三次元(2010/3020/4030.......)
一批二手形机120/175MM
一批无尘洁净台2.44*1.2*1.95米
一批10-13槽半自动超声波清洗机